德國diatest塞規(guī)側頭BMD-大連赫爾納

德國diatest賽規(guī)側頭BMD精度高達 0.0002 毫米/0.000008 英寸的測量儀器可確保獲得準確結果。DIATEST 已通過 DIN ISO 9001 認證。面向未來的制造技術（工業(yè) 4.0，...）、訓練有素的精密工程技術人員和工程知識保證了高的質量標準。無論是標準解決方案還是客戶特定解決方案，

DIATEST 測量儀器都以應對未來的任務浮動支架可補償位置誤差，例如在使用檢查臺或固定裝置時或在機器中進行自動測量時。根據任務的不同，提供具有不同螺紋和附加功能（沖擊安全反沖、空氣供應……）的不同浮動支架。它們可以與分體式球探頭、塞規(guī)BMD或多平面塞結合使用

DIATEST 測頭

DIATEST 塞規(guī)測頭

DIATEST 孔徑測量儀

DIATEST兩瓣頭測頭

DIATEST兩瓣頭

DIATEST孔徑測量儀

DIATEST備件

diatest賽規(guī)側頭BMD-允許靜態(tài)和動態(tài)測量

檢測尺寸偏差和形狀缺陷

作為直接在機器上鉆孔的手動工具

安裝在測量夾具和機器中

標準程序中有多種基本類型可供選擇，并輔以有用的附件，確保可以精確測量當前實踐中遇鉆孔。其靈活的平臺允許的應用：

標準孔和通孔：從 2.0 到 270 毫米，

盲孔測量（平底）：從 2,0 (T-BMD-FB) 到 150 mm，

外徑測量：從 20 到 100 毫米，

多平面塞規(guī)：從 21 毫米，

內齒輪量規(guī)：從 10 mm 圓柱直徑

3 點測量：從 8.0 到 100 毫米，

適用于 2.0 mm 至 3.0 mm 的極小直徑

平行距離測量：從 1.0 (T-BMD-PA) 到 30 mm

特殊尺寸、形狀和型號，例如錐形孔

測量范圍的擴展或限制、測量壓力的調整、氣源……

重復性：

2 點設計 =< 1 µm

三點設計 =< 2 µm

德國diatest塞規(guī)側頭BMD測量接觸材料的選擇取決于工件的成分和設計：

碳化物，

硬鉻，

陶瓷制品，

紅寶石，

塑料，

鉆石。

機械或數(shù)字指示器DIATRON1000探頭，包括測量柱DIATRON2200可用于顯示結果 Multiplane BMD DIATRON MultiFire可以集成到DIAWIRELESS網絡中。

諸如DIATRON6060-µNetwork之類的設備允許進行統(tǒng)計評估、集成到網絡、機器控制等等。

diatest賽規(guī)側頭BMD-零位設置應使用設置主控器進行，例如根據 DIN 2250-C 規(guī)范的設置環(huán)。

快速維護和維修服務提供翻新和全面測試的塞規(guī)。通常不需要購買新的插頭。BMD 可以經濟地使用多年。

廣泛的應用和簡單的操作與高精度和堅固的設計相結合，證明了 BMD 系統(tǒng)的經濟效率。根據要求提供特殊解決方案。

好的線性化——更高的測量確定性！

與來傳統(tǒng)標準塞規(guī)相比，新開發(fā)的 DIATEST BMD XQ 減少了高達 50% 的線性偏差。